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普仁將參展2013檢驗檢測技術(shù)與裝備博覽會
點(diǎn)擊次數(shù):2568 更新時間:2013-08-29


    為貫徹國家質(zhì)檢總局“科技興檢”戰(zhàn)略,加強(qiáng)關(guān)鍵技術(shù)和科技裝備的應(yīng)用,提升質(zhì)檢科技水平,經(jīng)商務(wù)部、國家質(zhì)檢總局批準(zhǔn),由中國出入境檢驗檢疫協(xié)會主辦,中國檢驗檢疫科學(xué)研究院協(xié)辦、山東新丞華展覽有限公司具體承辦的“2013檢驗檢測技術(shù)與裝備博覽會暨檢驗檢測學(xué)術(shù)大會”于 2013年9月13日—15日在青島會展中心舉辦。
    青島普仁儀器將攜PIC系列離子色譜儀及PAS系列自動進(jìn)樣器亮相展會,歡迎新老用戶及專家與會交流洽談!
 
    展位號:AT17
    :劉
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